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當(dāng)前位置:首頁(yè)新聞資訊日本供應(yīng)SHASHIN寫(xiě)真化學(xué)成像圖層膜厚儀

日本供應(yīng)SHASHIN寫(xiě)真化學(xué)成像圖層膜厚儀

更新時(shí)間:2024-11-02點(diǎn)擊次數(shù):64

# 2024年新品發(fā)布會(huì)#

日期:2024年9月29日

時(shí)間:8:30-18:30

近期我司新推出升級(jí)了SHASHIN寫(xiě)真化學(xué)成像圖層膜厚儀

這是一種可以通過(guò)顯微圖像光譜可視化透明多層膜的膜厚分布的膜厚計(jì)。

由于薄膜厚度是通過(guò)光學(xué)干涉法計(jì)算的,因此

薄膜厚度分布可以以 0.1 nm 或更低的分辨率以 3D 形式顯示。

在顯微鏡視場(chǎng)中測(cè)量任意區(qū)域的薄膜厚度和薄膜質(zhì)量分布

,并以 3D 形式顯示分布

分辨率與可見(jiàn)光波長(zhǎng)光學(xué)涂層測(cè)厚儀相當(dāng)

波長(zhǎng)范圍從 450 nm 到 750 nm,可以 1 nm 的增量

使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計(jì)算引擎進(jìn)行并行計(jì)算

應(yīng)用實(shí)例

(1) 數(shù)百層重復(fù)層壓薄膜和溝槽等復(fù)合結(jié)構(gòu)

(2) 用 EMA(有效介質(zhì)近似)法估計(jì)亞微米圖案的密度

(3) 局部結(jié)晶度評(píng)估



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